摘要:隨著電子封裝逐漸向小型化和多功能化發(fā)展,互連焊點(diǎn)中的電遷移問(wèn)題備受關(guān)注.本文針對(duì)電子封裝無(wú)鉛互連焊點(diǎn)中出現(xiàn)的電遷移問(wèn)題,先探究了電遷移的影響因素,其中包括電流密度、溫度、焊點(diǎn)的成分和微觀結(jié)構(gòu).其次,闡述了電遷移對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)的力學(xué)性能、界面組織、振動(dòng)疲勞性能和斷裂機(jī)制的影響.然后針對(duì)電遷移問(wèn)題,介紹了通過(guò)添加合金元素和控制電流密度兩個(gè)方面來(lái)提高焊點(diǎn)的抗電遷移失效的能力.最后,簡(jiǎn)述了該領(lǐng)域的研究發(fā)展方向,為進(jìn)一步研究電遷移對(duì)無(wú)鉛互連焊點(diǎn)的可靠性提供了理論基礎(chǔ).
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電子元件與材料雜志, 月刊,本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向,堅(jiān)持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性,刊載內(nèi)容涉及的欄目:新能源材料與器件專(zhuān)題、研究與試制等。于1982年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。