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          《Ieee Sensors Journal》雜志查重率過高能過審嗎?

          來源:優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:50:42 2898人看過

          《Ieee Sensors Journal》雜志查重率過高通常很難過審,論文的重復(fù)率是一個重要的考量因素,不同的期刊要求不一樣,通常來說,SCI論文查重率一般建議低于15%或者20%以下,投稿都比較安全。總的來說,保持論文的原創(chuàng)性和獨特性是關(guān)鍵。

          該雜志是國際知名的學(xué)術(shù)出版物,對論文的原創(chuàng)性和學(xué)術(shù)質(zhì)量有著極高的要求。查重率過高往往被視為學(xué)術(shù)不端行為的一種表現(xiàn),如抄襲或過度引用他人成果,這嚴(yán)重違反了學(xué)術(shù)誠信原則。

          如果查重率過高,常會采取以下措施:

          1、直接拒稿:對于查重率明顯超標(biāo)的論文,SCI期刊往往會直接拒絕接受其發(fā)表。這是為了保護(hù)學(xué)術(shù)界的原創(chuàng)性和誠信,避免抄襲等學(xué)術(shù)不端行為的傳播。

          2、要求修改并重審:在某些情況下,如果論文的查重率雖然較高,但其中存在合理的引用和解釋,期刊編輯部可能會要求作者進(jìn)行修改并重審。然而,這種情況相對較少,且修改后的論文仍需滿足期刊的原創(chuàng)性要求。

          因此,投稿前最好使用專業(yè)查重工具檢測并優(yōu)化重復(fù)內(nèi)容。

          《Ieee Sensors Journal》雜志(ISSN: 1530-437X,ESSN:1558-1748)是一本專注于工程:電子與電氣 - 工程技術(shù)的國際SCI期刊,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版,創(chuàng)刊于2001年,出版周期為semi-monthly。

          該雜志主要發(fā)表由領(lǐng)域內(nèi)專家撰寫的短篇文章,旨在以簡明易懂的方式呈現(xiàn)儀器儀表的最新研究進(jìn)展,特別適合尚未深入該領(lǐng)域的科研人員閱讀。

          《Ieee Sensors Journal》雜志在工程:電子與電氣 - 工程技術(shù)領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力,最新影響因子為4.3。

          JCR分區(qū)為Q1( 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q1,排名:83 / 352,百分位:76.6%;INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION中為Q1,排名:15 / 76,百分位:80.9%;PHYSICS, APPLIED中為Q2,排名:48 / 179,百分位:73.5%; 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q2,排名:99 / 354,百分位:72.18%;INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION中為Q1,排名:15 / 76,百分位:80.92%;PHYSICS, APPLIED中為Q1,排名:39 / 179,百分位:78.49%; )。

          CiteScore為7.7,(CiteScore排名為大類:Physics and Astronomy,小類:Instrumentation,分區(qū):Q1,排名:20 / 141,百分位:86%; 大類:Physics and Astronomy,小類:Electrical and Electronic Engineering,分區(qū):Q1,排名:148 / 797,百分位:81%; )

          《Ieee Sensors Journal》雜志是一本歷史悠久、聲譽(yù)良好的綜合性期刊期刊,以其高質(zhì)量、易讀性和前沿性在學(xué)術(shù)界占據(jù)重要地位。

          WOS分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023-2024年最新版)

          按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
          學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 83 / 352

          76.6%

          學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 15 / 76

          80.9%

          學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 48 / 179

          73.5%

          按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
          學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 99 / 354

          72.18%

          學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 15 / 76

          80.92%

          學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q1 39 / 179

          78.49%

          名詞解釋:
          WOS即Web of Science,是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫,Web of Science包括自然科學(xué)、社會科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息,來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學(xué)科領(lǐng)域劃分,根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中,最后的劃分結(jié)果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質(zhì)量最高。

          CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

          CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
          7.7 1.084 1.424
          學(xué)科 分區(qū) 排名 百分位
          大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation Q1 20 / 141

          86%

          大類:Physics and Astronomy 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 148 / 797

          81%

          名詞解釋:
          CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
          SJR:SCImago 期刊等級衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
          SNIP:每篇文章中來源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。

          聲明:以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料,如有不準(zhǔn)確之處,請聯(lián)系我們進(jìn)行修改。

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